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分析離子減薄儀技術(shù)的應(yīng)用
點(diǎn)擊次數(shù):1910 更新時(shí)間:2017-10-24
由于離子減薄儀制樣的*性,近幾年 得到廣泛應(yīng)用,迅速地開拓了透射電子顯微術(shù)的應(yīng)用領(lǐng)域,特別是地質(zhì),陶瓷、半導(dǎo)體等研究領(lǐng)域的透射電子顯微術(shù)有了較快的發(fā)展。離子轟擊減薄制樣技術(shù)在實(shí)際應(yīng)用中,除儀器因素外,實(shí)驗(yàn)技巧和條件選擇也是十分重要的,現(xiàn)將影響樣品質(zhì)量的主要因素簡述如下:
實(shí)驗(yàn)條件的選擇及其對樣品質(zhì)量的影響
采用離子減薄技術(shù)制備透射薄膜樣品速度很緩慢,尤其是在低傾射角和對耐轟擊的樣品,有時(shí)只有0.5~2μm/h,比較易于掌握減薄過程。影響樣品質(zhì)量和減薄速度的諸因素中以下幾點(diǎn)zui為重要。
1、加速電壓力 離子的能量是由加速電壓決定的,當(dāng)加速電壓高時(shí),離子的能量就大,隨著加速電壓的升高,減薄的速度也就加快。如果所采用的電壓過高(大于9KV),樣品薄區(qū)內(nèi)開始出現(xiàn)厚度起伏現(xiàn)象。這是由于離子束強(qiáng)度的分布是概率的平均,各瞬間的強(qiáng)度是不同的,所以當(dāng)所采用的高壓過高時(shí)就會出現(xiàn)厚度不均勻現(xiàn)象。某些不耐轟擊的材料還可能出現(xiàn)輻射損傷。多數(shù)離子減薄儀可連續(xù)加至10KV,(或12KV)。對于比較耐轟擊的金屬、耐火材料、陶瓷、礦物等,電壓可用至6—8KV,甚至還可更高些。如果是高分子材料,電壓就應(yīng)該降低些。根據(jù)作者經(jīng)驗(yàn),7KV左右具有比較廣泛的適用性,也就是說對于一般固體材料使用這一電壓都可獲得較為滿意的樣品。也可先用較高電壓轟擊一段時(shí)間,然后再把電壓降至6KV左右,這樣既能節(jié)省時(shí)間又能節(jié)省時(shí)間又能獲得比較完整的薄區(qū)。在轟擊過程中兩個(gè)離子槍的電壓可以有所差別,不必一致,有時(shí)為了控制兩面的速度,可對兩個(gè)槍分別采用不同電壓和電流。也臉認(rèn)為加速電壓有4 -6KV為宜。目前現(xiàn)成的技術(shù)規(guī)范還很少,主要是根據(jù)具體情況、具體儀器和研究目的進(jìn)行試驗(yàn)并加以確定。當(dāng)加速電壓過低時(shí)(低于4KV)將產(chǎn)生離子腐蝕作用,只有用離子腐蝕目的時(shí),才采用如此低的電壓。
2、傾射角 傾射角指的是離子束中心線對樣品表面的夾角。傾射角的大小對減薄速度和樣品質(zhì)量的影響zui為嚴(yán)重。例如用GL-69D離子減薄儀制備銅墻鐵銅墻鐵銅樣品。當(dāng)傾射角為15度時(shí),減薄速度為10μm/h。然而隨著傾家蕩產(chǎn)射角的增加,樣品的薄區(qū)(電子可穿透部分)的面積也是會急劇地減少。當(dāng)傾射角大于60度時(shí),減薄速度又開始減慢,這樣大的傾射角將產(chǎn)生離子注入現(xiàn)象,使有些材料造成損傷,所以傾射角不宜過大。通常在20度左右進(jìn)行減薄,是先以30度的角度減薄。在將近結(jié)束(穿孔前)時(shí),再降低傾射角至15度左右,這樣既加快速度,又可能性獲得較大的薄區(qū)。也可以隨著減薄過程逐漸降低角度,但角度不宜過低。否則,不僅會使減薄過程成倍地延長,而且經(jīng)常使用低角度時(shí)(<7度),會使樣品臺受損而降低樣品臺的壽命,更應(yīng)注意。zui常用的角度是15-20度。
3、離子束流 離子束流指的是由陰極小孔射出的離子碰撞到樣品上的離子流,有的儀器上裝有束流表,隨時(shí)監(jiān)視減薄過程的束流變化。速流的大小受加速電壓及氣流量控制。在一定條件下氣流量增加時(shí)速流增加。如果氣流量不變,加速電壓升高束流也增加。束流的大小表示到達(dá)樣品離子的多少。但束流大小對減薄速度的影響不如傾射角和傾射角和加速電壓強(qiáng)烈。有時(shí)增加束流也可增大減薄面積,使減薄區(qū)比較均勻,可是隨離子束流的增加會使樣品的溫度急劇上升。樣品溫升可達(dá)120度。如產(chǎn)生低溫回火的馬氏體鋼、非晶、高溫超導(dǎo)及高分子材料等,不宜(也沒必要)用很大的束流。應(yīng)將束流密度控制在100Μa/平米以下。但對于熱穩(wěn)定性和化學(xué)穩(wěn)定性較好的材料,鎢、鉬及礦物等可采用較大束流密度(150-200μA/平米),因?yàn)閷τ谶@類樣品,獲得大而均勻的薄區(qū)更為重要。值得注意的是,采用大的離子束流時(shí),除了使樣品溫升外,還會增加陰極的耗損,容易使陰極片上的離子出射孔擴(kuò)大,降低陰極片的壽命。
4、真空度 離子槍通過陰極小孔與樣品室相通。離子獲得得是通過稀薄氣體在高壓電場作用下發(fā)生輝光放電而獲得的。離子槍中的真空度為10-1——10-2torr輝光放電應(yīng)呈淡藍(lán)色。離子槍中產(chǎn)生的離子由陰極出射小孔出后經(jīng)過一段飛行距離(10-15mm)才能達(dá)到樣品表面。如果樣品室內(nèi)的氣體分子較多,對離子產(chǎn)生散射作用,使離子偏離原來的運(yùn)動方向或損失能量。為避免氣體分子對離子的散射,提高減薄速度和減少對樣品的污染,在減薄過程中樣品室必須保持在較好的真空度。減薄過程中工作室內(nèi)真空不必太高,因?yàn)檩x光源如真空度太高將使離子槍內(nèi)真空度隨之提高,使離子槍內(nèi)離化槍部分分子自由層太長,破壞了分子離化所必須遵守的破裂議程造成熄滅,所以工作室內(nèi)有中等真空即可。
5、樣品預(yù)減薄狀態(tài) 樣品在進(jìn)行離子減薄以前要進(jìn)行預(yù)減薄。樣品的預(yù)減薄情況對離子減薄結(jié)果的影響很大。如果樣品太厚,不公使減薄過程加長,而且所得樣品質(zhì)量也很差。這是由于用離子束減薄厚樣品時(shí)空孔附近的邊緣很陡,減小了電鏡中觀察時(shí)電子所能穿透的薄區(qū)。準(zhǔn)備進(jìn)行離子減薄的樣品原則上越薄越好。一般應(yīng)在50μm以下是可以做到的。盡管影響樣品質(zhì)量的因素較多,但由于離子減薄過程緩慢,易于控制,重復(fù)性好,所以通過實(shí)驗(yàn)選擇合適的實(shí)驗(yàn)條件并不難做到。在這些影響因素中,zui重要的就是傾射角和樣品的初始厚度。只要樣品磨很?。ㄐ∮?0μm),在減薄過程的不同階段采用不同的傾射角就會得到比較理想的樣品。